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基于SEM图像的低维纳米材料识别方法
院校-
发明专利
专利类型 - 专利状态
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2011100593855
专利号
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专利信息
数据仅供参考，具体信息可联系在线顾问
| 专利号 | 2011100593855 | 专利名称 | 基于SEM图像的低维纳米材料识别方法 |
|---|---|---|---|
| 专利类型 | 发明专利 | 国际分类 | G06K9/62;B82Y35/00;G01N23/22 |
| 申请人 | 天津大学 | 申请地址 | 天津市南开区卫津路92号 |
| 发明人 | 何凯;庞鹏飞;张伟伟;葛静祥 | 申请日期 | 2011-03-11 |
| 下证状态 | 更新时间 | 2022-09-19 11:24:05 | |
| 专利摘要 | 本发明属于计算机模式识别和纳米材料的交叉技术领域，涉及一种基于SEM图像的低维纳米材料识别方法，包括(1)对已知的纳米材料SEM图像样本做预处理；(2)对预处理后的图像进行二维小波包变换，得到不同频带上的子图矩阵；(3)对各频带子图矩阵进行特征提取，各子图矩阵的统计量作为表征纳米材料表面纹理结构的特征值；(4)根据所提取特征值，采用高斯径向基核函数作为支持向量机核函数，在任意两类之间寻找最优分类面，建立不同种类的纳米材料的分类模型；(5)提取未知的纳米材料SEM图像样本纹理特征值，再根据(4)步得到的分类模型，采用投票法进行未知的纳米材料识别。本发明能更加准确高效地表征和区分不同的纳米材料结构类型，具有准确率高、扩展性强、自动化程度高等优点。 | ||
交易流程
转让材料
| 买卖双方需提供 | 平台提供 | 转让后买方可获得 | ||
|---|---|---|---|---|
| 企业 | 个人 | 专利代理委托书 专利权转让协议 办理文件副本请求书 发明人变更声明 | 专利证书 手续合格通知书 专利登记簿副本 | |
| 买方 | 企业营业执照 企业组织机构代码证 | 身份证 | ||
| 卖方 | 企业营业执照 专利证书原件 | 身份证 专利证书原件 | ||
服务保障
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