发明专利
专利类型201310586593X
专利号专利号 | 201310586593X | 专利名称 | 基于支持向量机回归的晶体图像直线轮廓检测方法 |
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专利类型 | 发明专利 | 国际分类 | G06K9/66;G06T7/00 |
申请人 | 西安理工大学 | 申请地址 | 陕西省西安市金花南路5号 |
发明人 | 梁军利;张妙花;曾宪玉;刘丁;范自强;于国阳;柯婷;贾薇;叶欣;范文;李敏 | 申请日期 | 2013-11-19 |
下证状态 | 更新时间 | 2022-09-19 11:23:50 | |
专利摘要 | 本发明公开了一种基于支持向量机回归的晶体图像直线轮廓检测方法,包括采用CCD照相机采集单晶硅生长过程中的边缘轮廓线图像,对该边缘轮廓线图像进行预处理,构建关于直线角度的过完备字典,用LS‑SVR的对偶优化模型求解出与直线角度所对应的稀疏表示系数,求出直线的角度;引入稀疏约束项来优化原始对偶优化模型以提高直线角度的精确度;构建一个直线偏移量的过完备字典,再根据对偶优化模型解出直线的偏移量。本发明能在样本点很少的情况下拟合直线,很好的解决高维数据,在最小二乘支持向量机的原始对偶优化模型中加入了稀疏约束项,进一步提高了算法的鲁棒性,能够准确的估计晶体生长中的中心轴的变化情况,并控制生长中的晶体中心轴位置。 |
买卖双方需提供 | 平台提供 | 转让后买方可获得 | ||
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企业 | 个人 | 专利代理委托书 专利权转让协议 办理文件副本请求书 发明人变更声明 | 专利证书 手续合格通知书 专利登记簿副本 | |
买方 | 企业营业执照 企业组织机构代码证 | 身份证 | ||
卖方 | 企业营业执照 专利证书原件 | 身份证 专利证书原件 |
专利状态:
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询价专利状态:未知
专利类型:实用新型
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