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专利号	2018100283441	专利名称	可实现大小膜卷测试的薄膜电弱点测试仪控制系统
专利类型	发明专利	国际分类	G01R31/12;G05B19/05
申请人	钱立文	申请地址	安徽省铜陵市铜官区官塘新村26栋202室
发明人	钱锦绣	申请日期	2018-01-12
下证状态	未知	更新时间	2023-02-22 08:04:35
专利摘要	本发明可实现大小膜卷测试的薄膜电弱点测试仪控制系统,包括成品膜卷检测传感器PH1(10)、可编程逻辑控制器PLC(11)、切换继电器K1(12)，还包括两个分别对应于成品膜卷的张力调节电位器W1(1)、试样膜卷的张力调节电位器W2(2)、磁粉制动器驱动器(3)及两个分别用于成品膜卷张力控制的磁粉制动器Z1(4)、试样膜卷张力控制的磁粉制动器Z2(5)；本发明可自动完成适应试样膜卷及成品膜卷测试的张力调节及张力控制模式切换，又可以实现分别针对成品膜卷与试样膜卷张力需要实现无极调速，可以适应大小膜卷测试的需要。

买卖双方需提供			平台提供	转让后买方可获得
	企业	个人	专利代理委托书专利权转让协议办理文件副本请求书发明人变更声明	专利证书手续合格通知书专利登记簿副本
买方	企业营业执照企业组织机构代码证	身份证
卖方	企业营业执照专利证书原件	身份证专利证书原件