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专利号	2018101042423	专利名称	高精度的薄膜电弱点测试仪
专利类型	发明专利	国际分类	G01R31/12
申请人	钱立文	申请地址	安徽省铜陵市铜官区官塘新村26栋202室
发明人	钱锦绣	申请日期	2018-02-02
下证状态	未知	更新时间	2023-06-17 08:08:09
专利摘要	本发明一种高精度的薄膜电弱点测试仪，包括机架(1)、通过铜辊轴(3)安装在机架(1)上的铜辊(2)、以及设置在机架(1)一侧的与铜辊轴(3)可滑动电连接的电极总成；所述铜辊轴(3)通过铜辊轴承(4)、铜辊轴承绝缘座(5)呈绝缘的与铜辊轴承座(6)可转动连接，所述铜辊轴承座(6)通过铜辊轴承座固定螺丝(7)与机架(1)固连；所述电极总成包括金属底座(8)，及对称固设在金属底座(8)上的电极导套(9)、压簧卡销(10)及接线柱(11)。本发明采样电阻一端与电极总成的接线柱(11)电连接，另一端接地，测试精度高。

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