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专利号	2016111202006	专利名称	一种基于微透镜阵列的光散射特性测量装置及方法
专利类型	发明专利	国际分类	G01N21/49;G01N15/00
申请人	南京信息工程大学	申请地址	江苏省南京市宁六路219号
发明人	曹兆楼;刘玉柱;李金花;咸冯林;裴世鑫	申请日期	2016-12-08
下证状态	未知	更新时间	2022-09-19 11:42:28
专利摘要	本发明提供一种基于微透镜阵列的光散射特性测量装置及方法，其中，所述装置包括照明模块、探测模块、半透半反棱镜、激光强度模块、升降机构、物镜、待测颗粒、样品池、上位机及运动控制器，其中，所述照明模块产生的激光通过所述半透半反棱镜进入所述物镜，并根据所述照明模块和所述物镜的位置关系，生成对应类型的光束；所述光束作用于位于所述样品池中的所述待测颗粒，生成后向散射光；所述后向散射光依次通过所述物镜和所述半透半反棱镜后进入所述探测模块；所述探测模块根据接收所述后向散射光的微透镜孔径，确定所述后向散射光对应的散射角度。本发明提供的一种基于微透镜阵列的光散射特性测量装置及方法，能够提高光散射特性测量的精度。

买卖双方需提供			平台提供	转让后买方可获得
	企业	个人	专利代理委托书专利权转让协议办理文件副本请求书发明人变更声明	专利证书手续合格通知书专利登记簿副本
买方	企业营业执照企业组织机构代码证	身份证
卖方	企业营业执照专利证书原件	身份证专利证书原件