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专利号	2014100498411	专利名称	一种精确测量介电常数的测试系统及方法
专利类型	发明专利	国际分类	G01R27/26
申请人	南京信息工程大学	申请地址	江苏省南京市宁六路219号
发明人	文舸一;蒋佳佳;王峰	申请日期	2014-02-12
下证状态	未知	更新时间	2022-09-19 11:42:26
专利摘要	一种精确测量介电常数的测试系统，包括天线部分、射频电路部分以及数据处理显示部分；天线部分包括测试天线和散射样本；射频电路部分包括射频信号源和射频电路，其中射频电路由定向耦合器、低噪声放大器、功分器、混频器以及低通滤波器组成；数据处理显示部分由放大电路与ARM开发板组成；利用天线输入阻抗的变化和辐射场准确测量出样本的电磁参数。本发明具有能够精确测量低介电常数材料和高介电常数材料，误差小；测试系统简单，便于集成；散射体样本形状简单易于加工，可以对散射体样本进行扫频测试的特点。

买卖双方需提供			平台提供	转让后买方可获得
	企业	个人	专利代理委托书专利权转让协议办理文件副本请求书发明人变更声明	专利证书手续合格通知书专利登记簿副本
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