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专利号	2018104290904	专利名称	一种磁光克尔信号测量方法
专利类型	发明专利	国际分类	G01R33/032;G01N21/84;G01N27/72;G01R33/12
申请人	金华职业技术学院	申请地址	浙江省金华市婺州街1188号
发明人	傅晶晶	申请日期	2018-04-24
下证状态	未知	更新时间	2023-06-27 08:37:27
专利摘要	本发明涉及材料表面磁性测量领域，一种磁光克尔信号测量方法，测量装置包括激光器、偏振控制器、隔离器、保偏环形器、偏振器、保偏光纤I、电光调制器、保偏光纤II、非球面镜、1/4波片、透镜台、原子力显微镜、探针、样品、磁体、样品台、电源、光电探测器、信号发生器、功率分配器I、计算机、低通滤波器、锁相放大器I、倍频器、功率分配器II、锁相放大器II、入射光路及反射光路，探针中具有通孔，采用同一束光的两个正交偏振分量干涉的方法来获得样品的克尔角的信息，减少了来自于装置本身的某些非磁性效应比如线性双折射和线性二色性对测量准确性的影响，主要光路都在光纤中，减少光路中的光学元件，降低了杂散光的影响，提高了信噪比。

买卖双方需提供			平台提供	转让后买方可获得
	企业	个人	专利代理委托书专利权转让协议办理文件副本请求书发明人变更声明	专利证书手续合格通知书专利登记簿副本
买方	企业营业执照企业组织机构代码证	身份证
卖方	企业营业执照专利证书原件	身份证专利证书原件