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专利号	2018104290887	专利名称	一种表面纳米结构磁性测量方法
专利类型	发明专利	国际分类	G01N21/21;G01Q60/24
申请人	金华职业技术学院	申请地址	浙江省金华市婺州街1188号
发明人	张向平;范晓雯;张旺俏	申请日期	2018-04-24
下证状态	未知	更新时间	2023-06-27 08:37:28
专利摘要	本发明涉及光学技术测量领域的磁性测量方法，一种表面纳米结构磁性测量方法，测量装置包括激光器、延时器、1/4波片、凹透镜、凸透镜I、平面镜、偏振片、分束器、凸透镜II、透镜台、原子力显微镜I、探针I、透镜座、物镜、样品、霍尔片、样品台、信号发生器、示波器、探测器、磁体、前置放大器、差分放大器、补偿器、模数转换器、计算机、原子力显微镜II、探针II，磁体由四个相同的子磁体电缆连接组成，采用高精度的定位装置来获得纳米尺度样品表面的磁化信息，能够对单个纳米结构进行测量，对样品表面的磁化动态的测量能达到亚微米量级的空间分辨率，不依靠相敏检测技术来提取样品表面微小磁化波动的信息，能得到纳米尺度的磁化动态特征。

买卖双方需提供			平台提供	转让后买方可获得
	企业	个人	专利代理委托书专利权转让协议办理文件副本请求书发明人变更声明	专利证书手续合格通知书专利登记簿副本
买方	企业营业执照企业组织机构代码证	身份证
卖方	企业营业执照专利证书原件	身份证专利证书原件