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用于大气颗粒单颗粒分析的微束X射线荧光设备
院校-
发明专利
专利类型 - 专利状态
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2009101198502
专利号
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专利信息
数据仅供参考，具体信息可联系在线顾问
| 专利号 | 2009101198502 | 专利名称 | 用于大气颗粒单颗粒分析的微束X射线荧光设备 |
|---|---|---|---|
| 专利类型 | 发明专利 | 国际分类 | G01N15/14;G01N23/227 |
| 申请人 | 北京师范大学 | 申请地址 | 北京市海淀区新街口外大街19号 |
| 发明人 | 孙天希;刘志国;滕玥鹏;杨科 | 申请日期 | 2009-03-20 |
| 下证状态 | 更新时间 | 2022-09-19 11:18:35 | |
| 专利摘要 | 基于“坪区”毛细管X射线会聚透镜的微束X射线分析设备，它包括X射线光源、针孔光阑、“坪区”毛细管X射线会聚透镜、样品、显微镜、探测器，本设备的核心部件是“坪区”毛细管X射线会聚透镜。由于“坪区”毛细管X射线会聚透镜微焦斑的“坪区”处X射线强度分布均匀度高，且具有较高的功率密度增益，所以该谱仪特别适用于对大气颗粒物等微小颗粒物进行单颗粒分析：快速获得元素特征峰相对强度与单颗粒在“坪区”中位置无关的能谱——单颗粒“指纹”谱。 | ||
交易流程
转让材料
| 买卖双方需提供 | 平台提供 | 转让后买方可获得 | ||
|---|---|---|---|---|
| 企业 | 个人 | 专利代理委托书 专利权转让协议 办理文件副本请求书 发明人变更声明 | 专利证书 手续合格通知书 专利登记簿副本 | |
| 买方 | 企业营业执照 企业组织机构代码证 | 身份证 | ||
| 卖方 | 企业营业执照 专利证书原件 | 身份证 专利证书原件 | ||
服务保障
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