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一种基于光谱干涉装置的测量系统
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发明专利
专利类型 -
已下证
专利状态 -
2017102591141
专利号
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专利信息
数据仅供参考，具体信息可联系在线顾问
| 专利号 | 2017102591141 | 专利名称 | 一种基于光谱干涉装置的测量系统 |
|---|---|---|---|
| 专利类型 | 发明专利 | 国际分类 | G01B9/02;G01B11/06 |
| 申请人 | 泰州阿法光电科技有限公司 | 申请地址 | 江苏省苏州市张家港市杨舍镇塘市新泾中路10-1号5室 |
| 发明人 | 不公告发明人 | 申请日期 | 2017-04-19 |
| 下证状态 | 已下证 | 更新时间 | 2026-07-13 19:44:59 |
| 专利摘要 | 本发明涉及一种基于光谱干涉装置的测量系统，主要解决现有技术中存在的测量精度不足的技术问题，本发明通过采用所述测量系统包括光源，与光源依次连接的扩束准直透镜、起偏器、检偏器、自聚焦透镜、光谱仪及数据处理单元；待测双折射晶体连接于所述起偏器与检偏器之间；所述起偏器用于将经扩束准直透镜输出的平行光起偏为线偏振光；所述起偏器(的偏振轴与待测双折射晶体的任意偏振轴有夹角θ；检偏器与待测双折射晶体的任意偏振轴夹角为45度的技术方案，较好的解决了该问题，可用于双折射晶体厚度测量。 | ||
交易流程
转让材料
| 买卖双方需提供 | 平台提供 | 转让后买方可获得 | ||
|---|---|---|---|---|
| 企业 | 个人 | 专利代理委托书 专利权转让协议 办理文件副本请求书 发明人变更声明 | 专利证书 手续合格通知书 专利登记簿副本 | |
| 买方 | 企业营业执照 企业组织机构代码证 | 身份证 | ||
| 卖方 | 企业营业执照 专利证书原件 | 身份证 专利证书原件 | ||
服务保障
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