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专利号	2020102648033	专利名称	一种基于机床定位精度测量的阿贝误差补偿方法及系统
专利类型	发明专利	国际分类	G05B19/404(2006.01),G05B19/401(2006.01)
申请人		申请地址
发明人		申请日期	2020-04-07
下证状态	已下证	更新时间	2026-09-17 17:22:59
专利摘要	本发明公开了一种基于机床定位精度测量的阿贝误差补偿方法及系统，将测量装置激光干涉仪布置在机床上，对光调试，使得激光干涉仪处于待测量状态；录入数控系统的测量程序，使得数控系统的程序和激光干涉仪的测量参数设置一致；测量机床的定位误差，生成误差补偿参数表；测量激光干涉仪的发射光与相应传动丝杠中心轴线的距离，记录此数据为阿贝臂长；数控系统根据误差补偿参数表和阿贝误差值做叠加运算，生成补偿后的定位误差补偿值，并依据定位误差补偿值驱动伺服电机作进给运动，进行误差补偿。优点：考虑了测量过程中产生的阿贝误差，其补偿值叠加了阿贝误差作为机床的最终定位精度，大大提高了补偿精度。

买卖双方需提供			平台提供	转让后买方可获得
	企业	个人	专利代理委托书专利权转让协议办理文件副本请求书发明人变更声明	专利证书手续合格通知书专利登记簿副本
买方	企业营业执照企业组织机构代码证	身份证
卖方	企业营业执照专利证书原件	身份证专利证书原件