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专利号	2021107907664	专利名称	一种欠采样全息图压缩全息多尺度自聚焦重建方法及系统
专利类型	发明专利	国际分类	G03H1/08(2006.01),G03H1/04(2006.01)
申请人		申请地址	230601 安徽省合肥市经济技术开发区九龙路111号
发明人		申请日期	2021-07-13
下证状态	已下证	更新时间	2026-09-23 17:33:30
专利摘要	本发明公开了一种欠采样全息图压缩全息多尺度自聚焦重建方法及系统，属于数字全息技术领域，包括对物体在光学结构中不同位置经光源照射产生的全息图分别进行下采样操作，得到不同位置的下采样全息图；基于CS算法，对所述不同位置的下采样全息图进行重建，得到不同位置的振幅图像；采用特征值自聚焦算法的评估方法，根据不同位置的振幅图像，估计焦平面位置；基于TwIST算法，对焦平面位置的下采样全息图进行重建。本发明为实现欠采样情况下的自聚焦提出了EIG‑AF‑CS自聚焦算法，并将其与无孪生像压缩重建相结合，在保证重建质量的同时，有效克服了传统压缩全息重建中孪生像干扰及欠缺自聚焦能力的问题。

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	企业	个人	专利代理委托书专利权转让协议办理文件副本请求书发明人变更声明	专利证书手续合格通知书专利登记簿副本
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