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专利号	2023113448937	专利名称	一种微控制器应用功能性能完整性测试方法及系统
专利类型	发明专利	国际分类	G06F 11/22 (2006.01)
申请人	北京航空航天大学	申请地址	北京市海淀区学院路37号北京航空航天大学
发明人	王香芬	申请日期	2023-10-18
下证状态	未知	更新时间	2026-09-27 17:48:02
专利摘要	本发明公开的微控制器应用功能性能完整性测试方法及系统，涉及电数字数据处理领域。本发明从应用场景的角度出发，考虑用户的使用情况，基于待测试微控制器的片上资源和应用需求设置测试指标参数、对比式测试方法和合格判断依据，并基于设置的测试指标参数和对比式测试方法搭建测试环境，以便科学、合理地进行微控制器的应用功能性能完整性测试，有效的验证了器件的可用性和兼容性，不仅能够指导用户合理使用元器件，降低电子元器件的应用风险，还可以把发现的问题反馈给芯片研制单位，为提升器件自主可控能力提供有效的支撑，可协助解决微控制器验证过程中无依据和验证平台的难题，进而加快推进中国自主生产可控芯片在工程上的应用。

买卖双方需提供			平台提供	转让后买方可获得
	企业	个人	专利代理委托书专利权转让协议办理文件副本请求书发明人变更声明	专利证书手续合格通知书专利登记簿副本
买方	企业营业执照企业组织机构代码证	身份证
卖方	企业营业执照专利证书原件	身份证专利证书原件