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专利号	2025103244985	专利名称	在光纤组件下落过程中进行质检的批量检测装置及方法
专利类型	发明专利	国际分类	G01R 31/00 (2006.01),G01B 11/00 (2006.01)
申请人	南通博冠通信器材有限公司	申请地址	江苏省南通市如皋市如城街道十里社区29组（光华科技园A座一层）
发明人	宗小兰,万梅玲,沈跃跃,谢书兰,邓小艳,刘云菲,仝笑,刘盈盈,范春燕	申请日期	2025-03-19
下证状态	未知	更新时间	2026-09-27 17:48:02
专利摘要	本发明公开了一种在光纤组件下落过程中进行质检的批量检测装置及方法，涉及光学部件检测技术领域，其包括分件盘，其开设有多个轮廓匹配耦合器俯视轮廓的对料口；十字导轨，其数量与对料口的数量相同且位于对料口的下方；视觉模块，其位于十字导轨的侧面且用于采集从十字导轨中通过耦合器的端视图像；顶撑，其用于停滞十字导轨中的耦合器；电参数排查机构，其用于对十字导轨中通过的耦合器进行通电排查；综合控制器，其电连接于视觉模块和电参数排查机构。本申请具有满足耦合器的质检需求，减少漏检引起用户体验差问题的效果。

买卖双方需提供			平台提供	转让后买方可获得
	企业	个人	专利代理委托书专利权转让协议办理文件副本请求书发明人变更声明	专利证书手续合格通知书专利登记簿副本
买方	企业营业执照企业组织机构代码证	身份证
卖方	企业营业执照专利证书原件	身份证专利证书原件