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一种从稀疏到密集视点的全参考光场图像质量评价方法
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发明专利
专利类型 -
已下证
专利状态 -
2024111594929
专利号
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专利信息
数据仅供参考，具体信息可联系在线顾问
| 专利号 | 2024111594929 | 专利名称 | 一种从稀疏到密集视点的全参考光场图像质量评价方法 |
|---|---|---|---|
| 专利类型 | 发明专利 | 国际分类 | G06T 7/00 (2017.01),G06V 10/40 (2022.01),G06V 10/75 (2022.01) |
| 申请人 | 安庆师范大学 | 申请地址 | 安徽省安庆市菱湖南路128号 |
| 发明人 | 张友志,刘德阳,蒋俊明 | 申请日期 | 2024-08-22 |
| 下证状态 | 已下证 | 更新时间 | 2026-08-26 15:44:02 |
| 专利摘要 | 本发明涉及一种从稀疏到密集视点的全参考光场图像质量评价方法，包括：获取若干不同大小的子孔径图像阵列，从子孔径图像阵列中分别选取若干张子孔径图像并进行处理，获取原始和失真视点图像堆栈Y通道信息；将原始和失真视点图像堆栈Y通道信息进行特征提取，获取完整原始图像堆栈特征和完整失真图像堆栈特征，并获取对比特征；对完整原始图像堆栈特征、完整失真图像堆栈特征和对比特征进行图像注意信息提取；将图像注意信息的维度进行重新排列后，提取光场图像特征；基于光场图像特征，获取最终特征向量信息，并基于最终特征向量信息获取最终质量分数。本发明提升了全参考光场图像质量评价质量。 | ||
交易流程
转让材料
| 买卖双方需提供 | 平台提供 | 转让后买方可获得 | ||
|---|---|---|---|---|
| 企业 | 个人 | 专利代理委托书 专利权转让协议 办理文件副本请求书 发明人变更声明 | 专利证书 手续合格通知书 专利登记簿副本 | |
| 买方 | 企业营业执照 企业组织机构代码证 | 身份证 | ||
| 卖方 | 企业营业执照 专利证书原件 | 身份证 专利证书原件 | ||
服务保障
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