发明专利
专利类型已下证
专利状态2021116612934
专利号| 专利号 | 2021116612934 | 专利名称 | 气动热辐射效应校正方法 |
|---|---|---|---|
| 专利类型 | 发明专利 | 国际分类 | G06T5/00 |
| 申请人 | 武汉工程大学 | 申请地址 | 湖北省武汉市洪山区雄楚大街693号 |
| 发明人 | 时愈 | 申请日期 | 2021-12-31 |
| 下证状态 | 已下证 | 更新时间 | 2026-08-14 12:06:26 |
| 专利摘要 | 本发明公开了一种气动热辐射效应校正方法,包括:S1、获取气动热辐射退化图像,通过图像分解算法分解为平滑层和纹理细节层;S2、对平滑层进行像素阈值标记处理,确定热辐射强度中心;S3、确定强度中心范围;S4、对平滑层进行滤波,再根据强度中心范围内的像素点对平滑层进行高斯曲面拟合,获得初始热辐射效应层的高斯分布曲面参数;S5、对纹理细节层添加帧波正则化约束,再结合高斯分布曲面的正则化约束,建立基于范数最小化的图像校正模型;S6、对模型进行Split Bregman迭代求解,得到校正后的清晰图像。本发明具有拟合曲面所需参数少、可以在校正中更好地保边缘、以及运算迭代次数少等特点,能够对气动热辐射领域中热辐射图像有着比较好的校正效果。 | ||

| 买卖双方需提供 | 平台提供 | 转让后买方可获得 | ||
|---|---|---|---|---|
| 企业 | 个人 | 专利代理委托书 专利权转让协议 办理文件副本请求书 发明人变更声明 | 专利证书 手续合格通知书 专利登记簿副本 | |
| 买方 | 企业营业执照 企业组织机构代码证 | 身份证 | ||
| 卖方 | 企业营业执照 专利证书原件 | 身份证 专利证书原件 | ||


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