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基于关键节点选择和蚁群优化算法的大规模集成电路小时延故障测试通路选择方法

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专利号 2014106421095 专利名称 基于关键节点选择和蚁群优化算法的大规模集成电路小时延故障测试通路选择方法
专利类型 发明专利 国际分类 G06F17/50,G06N3/00
申请人 哈尔滨工业大学高新技术开发总公司 申请地址 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街118号
发明人 俞洋 申请日期 2014-11-13
下证状态 未知 更新时间 2025-01-11 09:21:11
专利摘要 基于关键节点选择和蚁群优化算法的大规模集成电路小时延故障测试通路选择方法,涉及一种大规模集成电路的小时延故障测试通路选择方法。它是为了解决现有基于贪婪算法对小时延缺陷的测试通路选择方法时间复杂度和空间复杂度过高的问题。本发明所述的基于关键节点选择和蚁群优化算法的大规模集成电路小时延故障测试通路选择方法,通过使用关键节点选择来优化蚁群优化算法的搜索时间,进而快速选择出小时延缺陷测试通路,使搜索时间减少为原时间的20%至25%。不仅降低了时间复杂度,也降低了空间复杂度。适用于在大规模集成电路小时延故障测试通路的选择。

交易流程

转让材料

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企业组织机构代码证
身份证
卖方 企业营业执照
专利证书原件
身份证
专利证书原件

服务保障

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