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采用漫反射积分腔作为光声池测量痕量气体浓度的方法及装置

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  • 2015107622255

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专利号 2015107622255 专利名称 采用漫反射积分腔作为光声池测量痕量气体浓度的方法及装置
专利类型 发明专利 国际分类 G01N21/17,G01N21/31,G01N21/03
申请人 哈尔滨工业大学 申请地址 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号
发明人 张治国 申请日期 2015-11-10
下证状态 未知 更新时间 2025-01-11 09:19:30
专利摘要 采用漫反射积分腔作为光声池测量痕量气体浓度的方法及装置,属于光声光谱技术和漫反射积分腔应用技术领域。本发明是为了解决光声光谱技术在对气体进行检测时,传统光声池光能的利用率较低的问题。本发明所述的采用漫反射积分腔作为光声池测量痕量气体浓度的方法及装置,在继承传统光声光谱技术优势的基础上,将生产工艺简单、价格低廉的高漫反射长方腔应用于光声光谱痕量气体探测中,通过延长光程,从而提高了气体测量的灵敏度,提高了光能的利用率,进而降低了气体浓度测量系统的成本,并具有响应速度快、稳定性好、维护简单、可实时监测等优点。本发明可对低浓度气体进行实时监测。

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卖方 企业营业执照
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身份证
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