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基于张量匹配子空间的高光谱图像目标检测方法
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发明专利
专利类型 -
未知
专利状态 -
201610356306X
专利号
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专利信息
数据仅供参考，具体信息可联系在线顾问
| 专利号 | 201610356306X | 专利名称 | 基于张量匹配子空间的高光谱图像目标检测方法 |
|---|---|---|---|
| 专利类型 | 发明专利 | 国际分类 | G06T7/33(2017.01) |
| 申请人 | 哈尔滨工业大学 | 申请地址 | 150001黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号 |
| 发明人 | 谷延锋 | 申请日期 | 2016-05-25 |
| 下证状态 | 未知 | 更新时间 | 2025-01-11 09:18:57 |
| 专利摘要 | 基于张量匹配子空间的高光谱图像目标检测方法，本发明涉及高光谱图像目标检测方法。本发明的目的是为了解决现有高光谱图像目标检测精度低以及空间信息利用率低的问题。具体过程为：一、建立张量表示下的目标和背景的信号表示模型；二、分别建立目标和背景的四阶张量矩阵；三、求取目标和背景的四阶张量矩阵中空间X、空间Y和光谱三个背景方向和三个目标方向的正交投影矩阵；四、将待检测信号映射到三得到的目标样本投影子空间和背景样本投影子空间中；五、判定待检测信号是否为检测目标，如果张量表达下的广义似然比检测模型值大于等于η时，为检测目标；否则为背景目标；其中η为阈值。本发明用于图像检测领域。 | ||
交易流程
转让材料
| 买卖双方需提供 | 平台提供 | 转让后买方可获得 | ||
|---|---|---|---|---|
| 企业 | 个人 | 专利代理委托书 专利权转让协议 办理文件副本请求书 发明人变更声明 | 专利证书 手续合格通知书 专利登记簿副本 | |
| 买方 | 企业营业执照 企业组织机构代码证 | 身份证 | ||
| 卖方 | 企业营业执照 专利证书原件 | 身份证 专利证书原件 | ||
服务保障
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