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基于多角度光散射-透射法的球形颗粒光学常数与粒径分布同时测量方法

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  • 2016109075464

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专利号 2016109075464 专利名称 基于多角度光散射-透射法的球形颗粒光学常数与粒径分布同时测量方法
专利类型 发明专利 国际分类 G01N15/02,G01N21/41,G01N21/51,G01N21/59
申请人 黑龙江省工研院资产经营管理有限公司 申请地址 黑龙江省哈尔滨市高新技术产业开发区科技创新城创新创业广场9号楼中源大道14955号1单元412室
发明人 张俊友 申请日期 2016-10-17
下证状态 未知 更新时间 2025-01-11 09:18:30
专利摘要 基于多角度光散射‑透射法的球形颗粒光学常数与粒径分布同时测量方法,涉及参与性介质辐射物性测量技术领域。本发明为了解决基于逆问题求解的参与性介质辐射参数测量中,实验测量值误差大、测量信号较弱的问题。本发明是利用连续稳态激光照射颗粒系统样品表面,通过在不同散射角度位置布置光学探测器,然后测量不同角度的稳态激光的散射光学信号强度以及半球透射信号,然后结合这些信号并通过逆问题求解技术获得球形颗粒光学常数与颗粒系粒径分布。本发明适用于基于多角度光散射‑透射法的球形颗粒光学常数与粒径分布同时测量。

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专利证书
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企业组织机构代码证
身份证
卖方 企业营业执照
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身份证
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