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基于超短脉冲激光辐照同时获取球形颗粒光学常数与粒径分布的测量方法
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发明专利
专利类型 -
未知
专利状态 -
2016109075483
专利号
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专利信息
数据仅供参考，具体信息可联系在线顾问
| 专利号 | 2016109075483 | 专利名称 | 基于超短脉冲激光辐照同时获取球形颗粒光学常数与粒径分布的测量方法 |
|---|---|---|---|
| 专利类型 | 发明专利 | 国际分类 | G01N15/02,G01N15/00 |
| 申请人 | 黑龙江省工研院资产经营管理有限公司 | 申请地址 | 黑龙江省哈尔滨市高新技术产业开发区科技创新城创新创业广场9号楼中源大道14955号1单元412室 |
| 发明人 | 任亚涛 | 申请日期 | 2016-10-17 |
| 下证状态 | 未知 | 更新时间 | 2025-01-11 09:18:29 |
| 专利摘要 | 基于超短脉冲激光辐照同时获取球形颗粒光学常数与粒径分布的测量方法，本发明涉及参与性介质辐射物性测量技术领域。本发明为了解决基于逆问题求解的参与性介质辐射参数测量中，实验测量值误差大、测量信号较弱的问题。本发明利用脉冲激光照射颗粒系统样品表面，通过改变试件的厚度以及入射激光的波长，然后测量不同角度的时域透射及反射信号，然后结合这些信号并通过逆问题求解技术获得球形颗粒光学常数与颗粒系粒径分布。本发明通过建立测量颗粒系统光学常数与颗粒系粒径分布的正、逆问题模型，在已知介质其他物性参数的前提下而提出。本发明适用于同时获取球形颗粒光学常数与粒径分布的测量场合。 | ||
交易流程
转让材料
| 买卖双方需提供 | 平台提供 | 转让后买方可获得 | ||
|---|---|---|---|---|
| 企业 | 个人 | 专利代理委托书 专利权转让协议 办理文件副本请求书 发明人变更声明 | 专利证书 手续合格通知书 专利登记簿副本 | |
| 买方 | 企业营业执照 企业组织机构代码证 | 身份证 | ||
| 卖方 | 企业营业执照 专利证书原件 | 身份证 专利证书原件 | ||
服务保障
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