发明专利
专利类型未知
专利状态2018102410032
专利号| 专利号 | 2018102410032 | 专利名称 | 一种提高荧光强度比技术测温精度的方法 |
|---|---|---|---|
| 专利类型 | 发明专利 | 国际分类 | G01K11/00 |
| 申请人 | 黑龙江省工研院资产经营管理有限公司 | 申请地址 | 黑龙江省哈尔滨市高新技术产业开发区科技创新城创新创业广场9号楼中源大道14955号1单元412室 |
| 发明人 | 张治国 | 申请日期 | 2018-03-22 |
| 下证状态 | 未知 | 更新时间 | 2025-01-11 09:17:54 |
| 专利摘要 | 一种提高荧光强度比技术测温精度的方法,本发明涉及一种提高荧光强度比技术测温精度的方法。本发明的目的是为了解决目前常用的荧光强度比技术测温精度较低的问题,具体的内容包括:(1)选取稀土离子热耦合能级对;(2)利用分段拟合的方法对这两个荧光带的强度比值进行标定,再利用玻尔兹曼热统计分布理论对荧光强度比值和温度之间的关系进行拟合,每个温度区间均得到一个拟合函数;(3)根据适合的拟合函数计算待测温度值。本发明利用分段拟合的思想能够将测温精度提高至少一个数量级。本发明能够切实解决荧光强度比技术中传统的整体拟合方法测温精度较低的弊端,显著提高荧光强度比技术的测温精度,本发明应用于稀土荧光测温领域。 | ||

| 买卖双方需提供 | 平台提供 | 转让后买方可获得 | ||
|---|---|---|---|---|
| 企业 | 个人 | 专利代理委托书 专利权转让协议 办理文件副本请求书 发明人变更声明 | 专利证书 手续合格通知书 专利登记簿副本 | |
| 买方 | 企业营业执照 企业组织机构代码证 | 身份证 | ||
| 卖方 | 企业营业执照 专利证书原件 | 身份证 专利证书原件 | ||


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