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AFM针尖磨损测量方法

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专利信息

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专利号 201810720887X 专利名称 AFM针尖磨损测量方法
专利类型 发明专利 国际分类 G01Q40/00
申请人 申请地址 河北省秦皇岛市海港区河北大街西段438号
发明人 申请日期 2018-07-04
下证状态 未知 更新时间 2025-01-11 08:45:43
专利摘要 本发明提供了一种AFM针尖磨损测量方法,属于原子显微镜的探针标定技术领域。包括如下步骤,基于已知针尖尺寸的AFM获取纳米台阶的台阶宽度L1;基于待测针尖尺寸的AFM获取相同的纳米台阶的台阶宽度L2;根据所述台阶宽度L1和L2的差值,获取待测针尖的半径尺寸。本发明提供的AFM针尖磨损测量方法,通过基于已知针尖尺寸的AFM与待测针尖尺寸的AFM测量相同的纳米台阶结构,并依据可直接获取的结构参数计算获得待测针尖的尺寸参数,操作简单,可以实时进行测量,为AFM的测量和实验结果分析提供准确的针尖结构数据,测量结果真实可靠。

交易流程

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买卖双方需提供 平台提供 转让后买方可获得
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企业组织机构代码证
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卖方 企业营业执照
专利证书原件
身份证
专利证书原件

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