欢迎来到中细软旗下技术转移平台

服务热线：400-9696-518

节能环保新能源新材料高端制造生物产业数字创意

免费询价在线咨询

专利号	2017108206701	专利名称	一种测微分析天平及分析方法
专利类型	发明专利	国际分类	G01G21/28(2006.01),G01G19/414(2006.01),G01G1/18(2006.01)
申请人		申请地址	524088 广东省湛江市麻章区海大路1号
发明人		申请日期	2017-09-13
下证状态	未知	更新时间	2025-01-11 08:35:17
专利摘要	本发明为一种测微分析天平。包括压力触控组件，光波干涉系统，单片机系统；压力触控组件包括上承板、下板，弹性元件，上承板上远离弹性元件的一端设有托盘架及托盘，在上承板设有刀口槽，下板上正对刀口槽的位置设有平衡架，平衡架的上端设有与刀口槽相适配的刀口，刀口插设在刀口槽内；光波干涉系统包括静片、动片、静脚、动脚、光源、半透半反镜、摄像头；静片固定在下板上，动片的一端固定在静片上形成静脚，动片的另一端通过吊件与上承板相连接并形成动脚；动片的上部设有摄像头，在摄像头与光源之间设有半透半反镜；所述单片机系统包括相互电连接的单片机模块、信息显示模块和键盘输入模块，所述摄像头与单片机模块相连接。

买卖双方需提供			平台提供	转让后买方可获得
	企业	个人	专利代理委托书专利权转让协议办理文件副本请求书发明人变更声明	专利证书手续合格通知书专利登记簿副本
买方	企业营业执照企业组织机构代码证	身份证
卖方	企业营业执照专利证书原件	身份证专利证书原件