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基于人类视觉特性的微型磁瓦表面缺陷检测方法

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  • 2020100222943

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专利号 2020100222943 专利名称 基于人类视觉特性的微型磁瓦表面缺陷检测方法
专利类型 发明专利 国际分类 G06T 7/00 (2017.01),G06T 7/136 (2017.01)
申请人 浙江理工大学 申请地址 浙江省杭州市下沙高教园区2号大街5号
发明人 李俊峰 申请日期 2020-01-09
下证状态 未知 更新时间 2025-01-11 08:11:07
专利摘要 本发明提供一种基于人类视觉特性的微型磁瓦表面缺陷检测方法:包括以下步骤:(1)图像采集,得到图像Image;执行步骤2;(2)通过阈值分割从图像Image得到磁瓦图像Region;执行步骤3;(3)磁瓦图像Region屏蔽边缘区域,得到屏蔽后的图像;执行步骤4;(4)屏蔽后的图像结构张量计算;执行步骤5;(5)缺陷区域提取。本发明从人体视觉的本质出发,结合尺度变换与结构张量完成对磁瓦表面多种缺陷的检测。相比传统检测算法只能针对单一的缺陷,本系统检测算法不仅可以同时检测掉块、磕边和划痕的缺陷,而且还能适应光照在一定范围内变化的情形。此外,本发明检测方法能够满足企业生产的精度与速度需求,且能够稳定的运行,可以进行生产应用。

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卖方 企业营业执照
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身份证
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