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一种非易失存储器坏块测试方法及系统
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发明专利
专利类型 -
未知
专利状态 -
2017104815880
专利号
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专利信息
数据仅供参考，具体信息可联系在线顾问
| 专利号 | 2017104815880 | 专利名称 | 一种非易失存储器坏块测试方法及系统 |
|---|---|---|---|
| 专利类型 | 发明专利 | 国际分类 | G11C29/44,G06F11/22 |
| 申请人 | 申请地址 | 上海市松江区思贤路3666号 | |
| 发明人 | 申请日期 | 2017-06-22 | |
| 下证状态 | 未知 | 更新时间 | 2025-01-11 07:46:09 |
| 专利摘要 | 一种非易失存储器坏块测试方法及系统，涉及数据闪存技术领域，该方法包括：提供一个没有坏块的非易失存储器；标记非易失存储器上至少一个块为坏块；烧录嵌入式软件至非易失存储器；观察嵌入式软件是否正常运行；若嵌入式软件不能正常运行，则检测嵌入式软件不合格。本发明可以提供一个比较好的模拟生产测试方法，预警问题，及时发现及时解决，提高软件的可靠性，节约成本。 | ||
交易流程
转让材料
| 买卖双方需提供 | 平台提供 | 转让后买方可获得 | ||
|---|---|---|---|---|
| 企业 | 个人 | 专利代理委托书 专利权转让协议 办理文件副本请求书 发明人变更声明 | 专利证书 手续合格通知书 专利登记簿副本 | |
| 买方 | 企业营业执照 企业组织机构代码证 | 身份证 | ||
| 卖方 | 企业营业执照 专利证书原件 | 身份证 专利证书原件 | ||
服务保障
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