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一种非线性光学吸收截面测量方法

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专利号 2020101273209 专利名称 一种非线性光学吸收截面测量方法
专利类型 发明专利 国际分类 G01N21/39,G01N21/25,G01N21/31
申请人 万新光学集团有限公司 申请地址 江苏省镇江市丹阳市丹伏路188号
发明人 周志强 申请日期 2020-02-28
下证状态 未知 更新时间 2025-01-11 07:05:08
专利摘要 本发明公开了一种非线性光学吸收截面测量方法。本发明可以实现同时测量简并和非简并非线性吸收截面谱。测量过程自动化,测量过程高效、快速。本发明中工作波段为380nm至近红外1064nm,能实现超连续宽光谱的非线性性能测量。采用了较大入瞳直径的变焦光学系统作为微弱信号采集镜头,能有效的将微弱信号在背景噪声中提取出来,同时此变焦光学系统轴上像点均方根直径100微米至150微米,轴上像点发散角2α为30.6度,很好的匹配光纤耦合条件,提高空间光耦合进光纤的耦合效率。系统测量灵敏度大大提高。

交易流程

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