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一种原位快速测量微/纳发光材料变温光谱的方法

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专利号 2021112882224 专利名称 一种原位快速测量微/纳发光材料变温光谱的方法
专利类型 发明专利 国际分类 G01N 21/64 (2006.01),G01N 21/01 (2006.01)
申请人 陕西师范大学 申请地址 陕西省西安市长安南路199号
发明人 申请日期 2021-11-02
下证状态 未知 更新时间 2025-01-10 08:37:45
专利摘要 本发明公开了一种原位快速测量微纳发光材料变温光谱的方法,该方法以吸收截面大的小尺寸银纳米岛作为热源,在光照条件下使银纳米岛在极短的时间内产生极高的热量,并传导至发光材料,使其局域温度瞬间升高;银纳米岛作为微纳尺度的可控热源,热效应可以通过光源特性进行调控,进而实现热源功率和发光材料环境温度的有效控制。本发明将银纳米岛作为可控热源,实现了对微纳发光材料变温光谱的测量,该方法简单易行,升温、降温过程快速,所需激发功率密度小。

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