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一种测度谷粒表面积和投影参数的新方法
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发明专利
专利类型 -
未知
专利状态 -
2019111704650
专利号
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专利信息
数据仅供参考，具体信息可联系在线顾问
| 专利号 | 2019111704650 | 专利名称 | 一种测度谷粒表面积和投影参数的新方法 |
|---|---|---|---|
| 专利类型 | 发明专利 | 国际分类 | G06T7/62(2017.01),G06V10/762(2022.01) |
| 申请人 | 湖南农业大学 | 申请地址 | 410128 湖南省长沙市芙蓉区农大路1号 |
| 发明人 | 唐启源 | 申请日期 | 2019-11-26 |
| 下证状态 | 未知 | 更新时间 | 2025-01-10 08:17:27 |
| 专利摘要 | 本发明公开了一种利用三维扫描仪获得谷粒点云测度谷粒形态参数的新方法。本发明测度谷粒形态参数包括：测度谷粒的表面积、谷粒投影面积和投影周长。本发明涉及测量方法、激光点云处理、图像几何变换和数值计算等技术领域。包括点包括点云图像获取、激光点云处理、图像几何变换、数值计算等步骤。本发明通过三维扫描的方式批量获取水稻谷粒激光点云，基于图像几何变换和点云聚类提取单个水稻谷粒激光点云，通过对水稻谷粒激光点云的数值分析提取水稻谷粒的谷粒表面积、谷粒投影面积和投影周长。本发明可用于不同品种谷粒形态量化分析，秕谷和实粒的分类。 | ||
交易流程
转让材料
| 买卖双方需提供 | 平台提供 | 转让后买方可获得 | ||
|---|---|---|---|---|
| 企业 | 个人 | 专利代理委托书 专利权转让协议 办理文件副本请求书 发明人变更声明 | 专利证书 手续合格通知书 专利登记簿副本 | |
| 买方 | 企业营业执照 企业组织机构代码证 | 身份证 | ||
| 卖方 | 企业营业执照 专利证书原件 | 身份证 专利证书原件 | ||
服务保障
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