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一种基于太赫兹波段磁光光谱的铬基尖晶石测试系统

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专利号 2021111840510 专利名称 一种基于太赫兹波段磁光光谱的铬基尖晶石测试系统
专利类型 发明专利 国际分类 G01N21/21(2006.01),G01N21/3563(2014.01),G01N21/3581(2014.01)
申请人 申请地址 236000 安徽省阜阳市清河路
发明人 申请日期 2021-10-11
下证状态 未知 更新时间 2025-01-10 07:56:13
专利摘要 本发明公开了一种基于太赫兹波段磁光光谱的铬基尖晶石测试系统,包括超导磁体和可旋转样品架,所述可旋转样品架安装在超导磁体的中部,在超导磁体的左侧和右侧分别设有太赫兹偏振调节模块和太赫兹探测模块,所述超导磁体的上侧和下侧均设有反射板。本发明通过设有的超导磁体、水平光学窗口、垂直光学窗口、太赫兹偏振调节模块和太赫兹探测模块,可以探测太赫兹波矢、偏振、磁场方向和待测样品晶向的多种参数组合模式下待测样品材料磁电耦合的微观机理,调节太赫兹波的强度,同时可以确定所需的太赫兹入射光角度,有利于最大效率探测太赫兹分量。

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