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基于光学显微的一点应变测量方法
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发明专利
专利类型 -
未知
专利状态 -
2023101670334
专利号
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专利信息
数据仅供参考，具体信息可联系在线顾问
| 专利号 | 2023101670334 | 专利名称 | 基于光学显微的一点应变测量方法 |
|---|---|---|---|
| 专利类型 | 发明专利 | 国际分类 | G01B 11/16 (2006.01) |
| 申请人 | 中国矿业大学 | 申请地址 | 江苏省徐州市泉山区大学路1号中国矿业大学 |
| 发明人 | 申请日期 | 2023-02-27 | |
| 下证状态 | 未知 | 更新时间 | 2025-01-10 07:51:22 |
| 专利摘要 | 本发明公开了一种基于光学显微的一点应变测量方法，包括：基于光学显微设备对介质被测点进行高倍率放大摄像或拍照，获得被测点局部范围高像素细观特征图像，在图像中选择若干个特征点，将特征点相连获得特征线段；测量特征线段在初始时刻的线段长度及其与坐标轴正方向夹角，计算夹角的余弦值；测量特征线段在后续某一时刻的线段长度，计算特征线段相比于初始时刻长度的相对变化量；基于一点的应变状态与该点任意方向正应变之间的关系式计算被测点的应变，获得应变测量结果。本发明解决了电阻式应变测量方法应变片覆盖面积大、环境适应性差、测试精度低、不适用用导电液体环境等问题。 | ||
交易流程
转让材料
| 买卖双方需提供 | 平台提供 | 转让后买方可获得 | ||
|---|---|---|---|---|
| 企业 | 个人 | 专利代理委托书 专利权转让协议 办理文件副本请求书 发明人变更声明 | 专利证书 手续合格通知书 专利登记簿副本 | |
| 买方 | 企业营业执照 企业组织机构代码证 | 身份证 | ||
| 卖方 | 企业营业执照 专利证书原件 | 身份证 专利证书原件 | ||
服务保障
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