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专利号	2020102949774	专利名称	薄储层或互储层模型地震波频变反射系数分析方法
专利类型	发明专利	国际分类	G01V1/30(2006.01),G01V1/28(2006.01)
申请人	东华理工大学	申请地址	330000 江西省南昌市抚州市学府路56号
发明人	李红星	申请日期	2020-04-15
下证状态	未知	更新时间	2025-01-10 07:34:14
专利摘要	本发明涉及一种薄储层或互储层模型地震波频变反射系数分析方法，该方法包括：步骤1：用修正Biot‑喷射流孔隙介质模型描述实际油气储层，用常用单相介质模型描述油气储层顶、底板层；步骤2：根据地层分界面的应力、应变及流体压力连续条件，求解修正Biot‑喷射流孔隙介质波动方程，生成薄（互）层储层地震波反射系数；步骤3：根据所述的薄（互）层储层地震波反射系数生成地震波在储层界面的随频率变化的反射，透射系数与地震波入射角度之间的关系；本发明克服了传统分析方法没有没有严格考虑储层是典型的多相孔隙介质的现状，可用于分析薄（互）层储层反射地震振幅随频率、入射角的变化，为油气储层地震预测提供方法支撑。

买卖双方需提供			平台提供	转让后买方可获得
	企业	个人	专利代理委托书专利权转让协议办理文件副本请求书发明人变更声明	专利证书手续合格通知书专利登记簿副本
买方	企业营业执照企业组织机构代码证	身份证
卖方	企业营业执照专利证书原件	身份证专利证书原件