发明专利
专利类型未知
专利状态2018112888089
专利号| 专利号 | 2018112888089 | 专利名称 | 一种多轴异形样品X射线荧光光谱分析装置 |
|---|---|---|---|
| 专利类型 | 发明专利 | 国际分类 | G01N23/223 |
| 申请人 | 东华理工大学 | 申请地址 | 江西省南昌市经开区广兰大道418号 |
| 发明人 | 王清亚 | 申请日期 | 2018-10-31 |
| 下证状态 | 未知 | 更新时间 | 2025-01-10 07:33:46 |
| 专利摘要 | 本发明提供了一种多轴异形样品X射线荧光光谱分析装置,涉及X射线探测分析技术领域。其包括:样品室、设置在样品室内的第一移动机构、样品台、X射线发射器、探测器和摄像头;所述第一移动机构包括X轴移动机构、Y轴移动机构,所述样品台设置在所述X轴移动机构和所述Y轴移动机构上;所述样品台包括滑动平台、固设在所述滑动平台上的球铰座、凸轮机构、以及与所述球铰座铰接的样品座,所述凸轮机构包括固设在所述滑动平台上的电机、与所述电机的输出轴连接的凸轮以及与所述凸轮抵接配合滑轮件,所述滑轮件远离所述凸轮的一端连接至所述样品座。能够改变异形样品与X射线发射器的距离和角度,实现对异形样品多个维度的检测。 | ||

| 买卖双方需提供 | 平台提供 | 转让后买方可获得 | ||
|---|---|---|---|---|
| 企业 | 个人 | 专利代理委托书 专利权转让协议 办理文件副本请求书 发明人变更声明 | 专利证书 手续合格通知书 专利登记簿副本 | |
| 买方 | 企业营业执照 企业组织机构代码证 | 身份证 | ||
| 卖方 | 企业营业执照 专利证书原件 | 身份证 专利证书原件 | ||


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