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一种多轴异形样品X射线荧光光谱分析装置

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专利号 2018112888089 专利名称 一种多轴异形样品X射线荧光光谱分析装置
专利类型 发明专利 国际分类 G01N23/223
申请人 东华理工大学 申请地址 江西省南昌市经开区广兰大道418号
发明人 王清亚 申请日期 2018-10-31
下证状态 未知 更新时间 2025-01-10 07:33:46
专利摘要 本发明提供了一种多轴异形样品X射线荧光光谱分析装置,涉及X射线探测分析技术领域。其包括:样品室、设置在样品室内的第一移动机构、样品台、X射线发射器、探测器和摄像头;所述第一移动机构包括X轴移动机构、Y轴移动机构,所述样品台设置在所述X轴移动机构和所述Y轴移动机构上;所述样品台包括滑动平台、固设在所述滑动平台上的球铰座、凸轮机构、以及与所述球铰座铰接的样品座,所述凸轮机构包括固设在所述滑动平台上的电机、与所述电机的输出轴连接的凸轮以及与所述凸轮抵接配合滑轮件,所述滑轮件远离所述凸轮的一端连接至所述样品座。能够改变异形样品与X射线发射器的距离和角度,实现对异形样品多个维度的检测。

交易流程

转让材料

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办理文件副本请求书
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手续合格通知书
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企业组织机构代码证
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卖方 企业营业执照
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身份证
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服务保障

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