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一种光干涉型微加工晶圆表面形貌测量装置及测量方法

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专利号 2023103184716 专利名称 一种光干涉型微加工晶圆表面形貌测量装置及测量方法
专利类型 发明专利 国际分类 G01B 11/24 (2006.01),H01L 21/66 (2006.01)
申请人 北方工业大学 申请地址 北京市石景山区晋元庄路5号
发明人 申请日期 2023-03-28
下证状态 未知 更新时间 2025-01-10 07:23:05
专利摘要 本发明公开的光干涉型微加工晶圆表面形貌测量装置及测量方法,涉及表面微形貌测量技术领域。本发明提供的装置包括:底座、竖直支架、Z轴粗调移动导轨、水平支架、测量模块、二维移动台、Z轴细调移动台和晶圆样品台;竖直支架一端固定在底座上,另一端上固定设置有Z轴粗调移动导轨;水平支架的一端设置在Z轴粗调移动导轨上,另一端上设置有测量模块;二维移动台设置在底座上;Z轴细调移动台设置在二维移动台上;晶圆样品台设置在Z轴细调移动台上;二维移动台用于调节Z轴细调移动台的位置。本发明基于上述装置结构,能够在提高表面微形貌测量的高精度和稳定性同时,满足大量程的测量,进而能够匹配微加工晶圆表面形貌测量的具体应用需求。

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