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一种自校准光学微振动检测方法

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  • 2020116381992

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专利号 2020116381992 专利名称 一种自校准光学微振动检测方法
专利类型 发明专利 国际分类 G01H9/00(2006.01),G01H17/00(2006.01),G01B11/02(2006.01)
申请人 申请地址 100144北京市石景山区晋元庄路5号北方工业大学
发明人 申请日期 2020-12-31
下证状态 未知 更新时间 2025-01-10 07:22:16
专利摘要 本发明涉及一种自校准光学微振动检测方法,所述方法包括:获取光栅干涉结构t时刻输出的第0衍射级处干涉光强信号和任一奇数衍射级处干涉光强信号;根据所述第0衍射级处干涉光强信号得到第一电压信号,根据所述任一奇数衍射级处干涉光强信号得到第二电压信号;根据饱和幅值比例系数对所述第一电压信号和第二电压信号进行加权平均,得到加权平均电压信号;根据所述加权平均电压信号计算补偿后的第一电压信号和补偿后的第二电压信号;根据所述补偿后的第一电压信号和补偿后的第二电压信号得到一组正交电压信号;对所述正交电压信号进行解调运算得到待测振动位移。本发明能够解决光干涉型检测方法的工作点偏移问题,获得准确的检测结果。

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买卖双方需提供 平台提供 转让后买方可获得
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