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相位调制型正交偏振激光反馈光栅干涉仪及其测量方法

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专利号 201810319638X 专利名称 相位调制型正交偏振激光反馈光栅干涉仪及其测量方法
专利类型 发明专利 国际分类 G01B11/02(2006.01),G01B9/02(2006.01)
申请人 南京师范大学 申请地址 210023江苏省南京市鼓楼区宁海路122号
发明人 郭冬梅 申请日期 2018-04-11
下证状态 未知 更新时间 2025-01-09 14:14:48
专利摘要 本发明涉及一种用于二维测量的相位调制型正交偏振激光反馈光栅干涉仪及其测量方法,测量原理基于光栅衍射、光学多普勒效应、Lamb半经典理论和时域正交解调原理。双折射双频氦氖激光器输出的正交偏振光垂直入射至偏振分光棱镜被分成两束不同偏振方向的线偏振光,这两束偏振光分别经过两个不同的电光调制器后分别被反射镜以±1级利特罗入射角入射到反射式衍射光栅上。衍射光分别沿各自的入射光返回激光腔内与腔内光发生自混合干涉。激光器后向输出光经偏振片后只保留单模光,并被光电探测器接受,光电探测器输出信号输出至数据处理模块进行数据处理,得到待测目标的二维位移。本发明具有结构简单,测量范围大、测量分辨率高等优点。

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