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利用一维光子晶体传感器快速检测紫外线强度的方法
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发明专利
专利类型 -
未知
专利状态 -
2021110313958
专利号
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专利信息
数据仅供参考，具体信息可联系在线顾问
| 专利号 | 2021110313958 | 专利名称 | 利用一维光子晶体传感器快速检测紫外线强度的方法 |
|---|---|---|---|
| 专利类型 | 发明专利 | 国际分类 | G01J 1/12 (2006.01) |
| 申请人 | 大连大学 | 申请地址 | 辽宁省大连市经济技术开发区学府大街10号 |
| 发明人 | 申请日期 | 2021-09-03 | |
| 下证状态 | 未知 | 更新时间 | 2025-01-09 14:11:23 |
| 专利摘要 | 本发明涉及检测紫外线强度的方法，具体为利用一维光子晶体传感器快速检测紫外线强度的方法，属于光学领域。本发明的技术方案主要包括：将邻硝基苯甲醛掺杂到二氧化钛溶胶中，作为一维光子晶体膜中的高折射率材料，以壳聚糖溶胶为低折射率材料，采用旋涂法制成一维光子晶体膜。紫外线照射光子晶体传感器时，邻硝基苯甲醛电离出氢离子，引起光子晶体中高折射率层结构发生改变，光子晶体膜的颜色变化与紫外线的强度呈现对应关系，从而达到检测紫外线强度的目的。 | ||
交易流程
转让材料
| 买卖双方需提供 | 平台提供 | 转让后买方可获得 | ||
|---|---|---|---|---|
| 企业 | 个人 | 专利代理委托书 专利权转让协议 办理文件副本请求书 发明人变更声明 | 专利证书 手续合格通知书 专利登记簿副本 | |
| 买方 | 企业营业执照 企业组织机构代码证 | 身份证 | ||
| 卖方 | 企业营业执照 专利证书原件 | 身份证 专利证书原件 | ||
服务保障
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