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专利号	2019108457179	专利名称	一种薄膜剖面图像的膜厚采集方法
专利类型	发明专利	国际分类	B29D7/01(2006.01),G05D5/03(2006.01)
申请人		申请地址	310018浙江省杭州市下沙高教园区学源街258号
发明人	邹细勇	申请日期	2017-05-28
下证状态	已下证	更新时间	2026-08-19 15:08:06
专利摘要	本发明公开了一种薄膜剖面图像的膜厚采集方法，基于薄膜测厚仪输出用以显示被检测薄膜的横向剖面厚度图像，先根据区域特征获取含有目标曲线的ROI区域，在灰度化和滤波处理后，根据颜色分量和坐标特征获取该区域内的非连续膜厚曲线图像和辅助点阵图像；然后，对二副图像分别进行Otsu阈值分割和双阈值分割后得到二值图像，并将结果相合并生成一条连续完整且无交叉的膜厚曲线图像；最后，基于所获取的基准厚度值、坐标刻度值、厚度平均值，对所生成膜厚曲线上每个点，将其在图像中的像素坐标变换为所对应的厚度值。本发明通过对薄膜剖面图像的处理，能准确获取薄膜剖面各点的厚度值，从而为薄膜横、纵向厚度的一致性控制提供了基础。

买卖双方需提供			平台提供	转让后买方可获得
	企业	个人	专利代理委托书专利权转让协议办理文件副本请求书发明人变更声明	专利证书手续合格通知书专利登记簿副本
买方	企业营业执照企业组织机构代码证	身份证
卖方	企业营业执照专利证书原件	身份证专利证书原件