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一种基于双波长光源的荧光强度比测温方法
院校-
发明专利
专利类型 -
未知
专利状态 -
2018113773260
专利号
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专利信息
数据仅供参考，具体信息可联系在线顾问
| 专利号 | 2018113773260 | 专利名称 | 一种基于双波长光源的荧光强度比测温方法 |
|---|---|---|---|
| 专利类型 | 发明专利 | 国际分类 | G01K11/00 |
| 申请人 | 哈尔滨工业大学 | 申请地址 | 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号 |
| 发明人 | 张治国 | 申请日期 | 2018-11-19 |
| 下证状态 | 未知 | 更新时间 | 2025-01-11 09:24:30 |
| 专利摘要 | 一种基于双波长光源的荧光强度比测温方法，本发明涉及一种基于双波长光源的荧光强度比测温方法。本发明的目的是为了解决现有的稀土离子荧光强度测温技术在较高温度区间内的相对灵敏度会急剧衰减的问题，本发明在303到783K的温度范围内，记录稀土Tb3+离子在氙灯经过分光后的310nm和378nm的光源激发下所发出的中心波长位于545nm的绿色荧光的强度比，该强度比和温度之间的函数关系即为测温曲线，可以用来测量未知环境的温度。基于该方法，能够在较高温度区间内获得更加灵敏的温度响应，明显优于目前常规光学方法所能达到的灵敏度，本发明应用于荧光强度比测温领域。 | ||
交易流程
转让材料
| 买卖双方需提供 | 平台提供 | 转让后买方可获得 | ||
|---|---|---|---|---|
| 企业 | 个人 | 专利代理委托书 专利权转让协议 办理文件副本请求书 发明人变更声明 | 专利证书 手续合格通知书 专利登记簿副本 | |
| 买方 | 企业营业执照 企业组织机构代码证 | 身份证 | ||
| 卖方 | 企业营业执照 专利证书原件 | 身份证 专利证书原件 | ||
服务保障
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